方保僑 - iPhone Duo 內屏幕爆裂疑雲 | 方程式

更新時間：02:00 2026-11-05 HKT
發佈時間：02:00 2026-11-05 HKT

　　Apple iPhone Duo 開售不久，市場即流傳多宗內屏幕摺痕位置出現裂痕或白線的個案，令不少消費者轉為觀望。從結構工程角度分析，這類故障未必能單純歸咎於屏幕品質，而可能是設計、製造工藝與使用習慣交錯下的結果。

　　作為Apple第一代摺機，iPhone Duo需在機身厚度、鉸鏈扭力、摺痕隱形效果及內部應力（Internal Stress）緩衝之間取得極致平衡。由於缺乏前代產品的長期實際使用數據，內部組件的組裝公差與應力分布設定收得較緊，對外力的容錯邊界亦相對敏感。多宗故障案例的損壞位置高度一致，反映問題未必是隨機的人為損傷，而可能是鉸鏈中段在反覆開合時出現輕微位移，導致頂壓力重複集中在同一條顯示線路，最終造成故障。

　　另一方面，摺疊機所採用的柔性OLED面板與超薄玻璃，雖具備彎曲特性，但對局部的剪應力（Shear Stress）極為脆弱。習慣使用直板iPhone的用戶，會沿用單指從邊角掰開，或快速用力閉合機身，這種不均勻的外力會令龐大的應力瞬間集中在鉸鏈與屏幕接合處，容易造成內部線路斷裂形成黑線，繼而演變成玻璃層的微觀裂痕並逐步擴散。

　　因此，首代iPhone摺機既考驗廠商的製造工藝，也考驗用戶的操作習慣。日常開合時應保持雙手受力均勻，順應鉸鏈阻尼平穩操作，並在閉合前確保屏幕表面沒有沙粒或硬質異物。設計上的結構弱點，最終仍須原廠透過工藝修正解決；但在摺疊技術完全成熟前，用戶多加細心，並考慮購買延長保養服務，確實是降低使用風險與財政負擔的明智之舉。

香港互動市務商會創會會長
香港資訊科技商會榮譽會長
方保僑